二手 HITACHI S9380-2 #9351431 待售

HITACHI S9380-2是一種掃描電子顯微鏡（SEM），使用戶能夠以亞像素分辨率觀察樣品的結構。它支持在高真空以及低壓力和高壓力下的觀測。此外,強大的成像設備可以獲取高對比度的SEM圖像。該SEM采用二次電子探測器肖特基發射電子探測器進行更詳細的成像.此外，該探測器安裝在校正高效低能電子探測器（CHELEX）支架中，從而產生高耐久性和可靠的成像。它配備了動態聚焦技術,使獲取高分辨率圖像更容易、更快。S9380-2系統為更高的信號處理和分析提供了多種功能。其中包括電動采樣臺、光束電流和寬度自動控制、可變光束調節等。先進的視頻處理單元和用戶友好的功能有助於在更短的時間內實現更高質量的圖像。光譜X射線分析采集和測量允許用戶在使用能量色散X射線光譜儀時對樣品進行更詳細的分析。HITACHI S9380-2機具有高精度的Oxford InTouch bruker探測器和用於自動圖像采集的AXSY2 Pre-scanning工具。AXSY2可以補償光束點的不穩定性，提供理想的成像環境。其高速數據采集可以顯著減少高清圖像的采集時間。S9380-2中還包括計算機輔助圖像采集資產,允許用戶調整興趣區域（AOI）和掃描範圍。該模型可以存儲每個AOI的參數供以後使用，並提供廣域成像、多角度成像和單發成像等多種圖像捕獲模式。該設備具有可選的自極性功能,可對其進行編程以捕獲樣品正負兩側的圖像。它配備了七軸歐中心臂系統，以訪問所需的任意掃描角度。其他可選功能包括低真空單元（LVS）和超高速穿梭噴射機（SSFIF）。該工具包括一個可選的高效接口,用於遠程控制SEM。這允許用戶從遠程位置控制SEM,使他們能夠靈活地執行各種操作,而無需前往計算機。此外,該資產還支持以太網通信進行數據傳輸,從而實現實時數據采集和分析。為了保護樣品,HITACHI S9380-2 SEM提供了可選的Filtepoint TM過濾器,可減少樣品發出的帶電粒子和碎片的數量。它還包括特殊的安裝級和附件，以便於處理樣品。在樣品制備方面，S9380-2與各種樣品持有者兼容，包括存根、MEMS樣品支持和納米顆粒樣品持有者。這些特性使得HITACHI S9380-2非常適合半導體、薄膜、材料科學、納米技術、生物學等領域的一系列研究應用。它提供了強大的成像和分析功能,使用戶能夠以亞像素分辨率觀察樣品,從而獲得更多細節和準確性。