二手 HITACHI WA 3300 #9232735 待售

HITACHI WA 3300
製造商
HITACHI
模型
WA 3300
ID: 9232735
Atomic Force Microscope (AFM).
HITACHI WA 3300是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於提供各種樣品的高分辨率成像和分析。它具有先進的Abbe和現場發射技術,可優化聚焦穩定性,提高圖像分辨率,提高運行速度和吞吐量。儀器的主柱裝有野外發射槍(FEG)和高壓電源,提供更大的聚焦深度,減少球面像差。這樣可以同時在各種放大倍數上實現更高分辨率的成像和圖像穩定性。該儀器可使用各種物鏡操作,範圍從低放大倍率(非常適合大樣品)到超高放大倍率(非常適合進行詳細的表面分析)。質量分析系統(Mass Analysis System, MAS)提供了非常快速的圖像采集,具有高度集成的主次色譜柱,具有超高性能延遲線檢測器和高穩定性二次電子檢測器。MAS還為觀察各種材料提供了高靈敏度,如半導體、金屬以及陶瓷和有機材料。電子束聚焦系統(EBFS)是HITACHI WA3300的一個強大而堅固的特點,通過調整束的橫向和縱向位置,方便地控制最佳采樣束。此特征對於曲面不均勻或特征復雜的樣本特別有用。WA-3300還具有獨特的成像和分析系統,能夠在成像和分析過程中實時觀察和優化成像參數。實時電子束優化過程簡化了SEM操作的復雜性,簡化了工作流程,提高了工作效率,縮短了分析時間。最後,WA3300提供了大量的SEM附件,如自動樣品準備單元、自動舞臺選項、數字SEM圖像處理器以及各種數據分析和采集系統。這些組件結合易用性和高性能,使WA 3300成為各種樣品分析和成像應用的理想選擇。
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