二手 HITACHI WA 3300 #9244729 待售

HITACHI WA 3300
製造商
HITACHI
模型
WA 3300
ID: 9244729
Atomic Force Microscope (AFM) Process: Metro.
HITACHI WA 3300掃描電子顯微鏡(SEM)是科學家用於研究和分析廣泛材料的先進成像儀器。它能夠產生納米範圍內樣品的高分辨率圖像。HITACHI WA3300使用電子束探測和生成樣品表面結構的圖像。它配備了一個新開發的「冷陷阱」,可以保存樣品和對軟樣品進行更詳細的成像。WA-3300是包括電子源、電子探測器、試樣室、真空系統、控制和監控軟件以及用戶界面在內的各種組件的組合。電子源由電子槍產生,電子槍可以改變加速度電壓水平來研究不同尺寸和材料的樣品。樣品室處於真空狀態,以盡量減少汙染,並在成像過程中保存樣品。腔室包含物鏡、偏轉鏡和舞臺,以任何所需角度精確定位樣品。電子探測器根據樣品產生的電子信號產生圖像。WA 3300還可以記錄從低分辨率到高分辨率的各種放大圖像。其成像能力範圍從傳統的SEM圖像到透射電子顯微鏡、俄歇、二次、X射線光譜和超低真空成像。WA3300還具有自動化的控制和監控軟件,可幫助用戶監控、分析和解釋數據。該軟件可與各種計算機程序集成,以實現數據共享和協作。HITACHI WA-3300是從事材料科學、納米科學、能源科學、生物醫學等領域研究的科學家的理想工具。它是一種用戶友好的儀器,可用於研究各種具有高成像分辨率的樣品。其自動化的控制和監控軟件也增加了其可用性和整體性能。
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