二手 HITACHI WA-3300S #293603568 待售

HITACHI WA-3300S
製造商
HITACHI
模型
WA-3300S
ID: 293603568
Atomic Force Microscope (AFM).
HITACHI WA-3300S是一種掃描電子顯微鏡,能夠以高分辨率和細節深度觀察微小樣品的表面。它是一種通用工具,用於探測、分析和測量納米級以下的材料,用於揭示樣品的詳細地形和進行掃描電子顯微鏡檢查。該儀器采用電動采樣級和大型真空室設計。它具有多光束幾何形狀,能夠執行廣域成像和高度局部化的掃描。它還具有高達200kX的高放大倍率、高達68毫米的視野和5 nm的分辨率。WA-3300S有一個能量分散X射線系統,能夠在幾秒鐘內對樣品進行能量分析並確定其組成。這樣可以快速評估材料的特性,如晶體結構、化學成分等。此外,HITACHI WA-3300S還集成了計算機控制的樣品加載系統,使樣品在樣品階段易於裝載。該儀器還配備了自動標本識別、傾斜和聚焦機制,用於快速階段操作。此功能允許以不同傾斜角度掃描樣本,這對於從各個方面分析樣本非常有價值。WA-3300S還有一個外部數據處理單元(EPDU),旨在優化圖像質量,從各種尺寸的樣本中獲得更高的分辨率。此單元支持實時SEM圖像處理和分析,最多可存儲八個圖像以進行即時調用。HITACHI WA-3300S提供了高放大倍率和分辨率功能以及執行一系列分析過程的最佳組合。它是表面分析、材料研究、納米技術等方面的絕佳工具。
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