二手 JEOL JSM 6700F #9373197 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

製造商
JEOL
模型
JSM 6700F
ID: 9373197
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6700F是為材料科學和生物電子顯微鏡應用而設計的高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM)。由於SEM的成像能量為1.0至30kV,因此能夠以高精度和高細度對微米級特征進行成像。源電壓可調,最大加速度電壓可達20kV。JEOL JSM 6700 F利用二次電子(SE)和反向散射電子(BSE)探測器進行成像,提供了廣泛的成像可能性,具有出色的圖像和改進的對比度。它還配備了鏡頭內SE檢測器,可以對樣品的上部進行優越的成像,比如在材料和有機生物學中發現的。光束電流是可調的,顯微鏡也能夠成像不同類型的樣品,如無機樣品、納米材料、生物樣品和IC。此外,JSM 6700F還具有許多特殊功能,例如用於成像能量敏感樣品的列內能量過濾器、用於快速調整成像焦點的自動聚焦系統、用於環境安全和用於成像危險材料的無溢出設計,以及用於自動成像和分析的EFI軟件。所包括的玻璃碳樣品階段可用於廣泛的成像條件,它可以容納濕的樣品和加熱到600 °C的樣品。總而言之,JSM 6700 F是一種非常精確、用途廣泛的SEM,適用於材料科學和生物電子顯微鏡的廣泛應用。
還沒有評論