二手 JEOL JWS 7515 #129821 待售

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製造商
JEOL
模型
JWS 7515
ID: 129821
Wafer inspection system.
JEOL JWS 7515是一款最先進的掃描電子顯微鏡(SEM),具有高性能和高級功能。JEOL JWS-7515采用超穩定柱設計,具有卓越的性能特性和圖像分辨率。SEM的設計能夠處理各種尺寸和形狀的樣品,從納米顆粒到散裝材料。該裝置由高速數字掃描裝置驅動,有助於顯著減少振動和噪音,從而能夠掃描細膩和高度敏感的樣品。JWS 7515還配備了堅固的自動聚焦設備、強大的ESB(電子源保護)系統和優化的偏轉單元,以實現卓越的圖像質量。SEM擁有大範圍的電子光學器件,如低噪聲閃爍器、數調高分辨率成像機和混合工作距離。這允許用戶在優化成像要求的同時,根據樣品的特定需求量身定制電子光學器件。此外,該設備還具有較大的廣角視野,使用戶可以訪問整個樣品表面。SEM配備了強大的熱真空室,提供環境控制條件,非常適合溫度敏感樣品。它還有一個專門的樣品制備室,可以自動裝卸樣品。憑借其強大的內置軟件,JWS-7515提供了多種功能,如映像控制、數據采集和分析,使用戶能夠快速有效地收集所需的數據。JEOL JWS 7515包括一個高級成像包和一系列進一步自動化分析的選項。這些可選的軟件包使處理圖像、生成圖形、圖表和其他數據量化成為可能。該設備還支持用於自定義數據分析的用戶定義參數。總體而言,JEOL JWS-7515是一種功能強大、性能高的掃描電子顯微鏡,具有先進的特性和功能。它為用戶提供卓越的圖像分辨率和靈活的成像功能,支持獲取任何類型的樣本。自動分析選項的範圍為用戶提供了一種收集所需數據的便捷方法。
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