二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9314369 待售

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PHILIPS / FEI XL 30
已售出
ID: 9314369
Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) High vacuum Low vacuum Wet modes Imaging: 1 kV-30 kV Magnification: 10x-100,000x Optimal condition: 3.5nm Stage: Motorized.
PHILIPS/FEI XL 30是由PhillipsFEI公司設計制造的掃描電子顯微鏡(SEM)。通用SEM產生高分辨率圖像,具有低標本離子損傷,可用於多種標本分析技術。FEI XL 30依靠熱電子場發射槍發射電子,配備傳統的鏡頭內det電場和雙光圈系統。這種設計使PHILIPS XL30即使在高放大倍數下也能表現出出色的圖像清晰度和結構穩定性。PHILIPS XL 30包括一個大的高穩定性真空室和一個磁場無反作用的電子光學柱。這兩個特征的結合使得可以進行一系列的標本分析技術。可以利用多探測器、成像技術和自動對焦系統來調整圖像質量,獲得揭示樣品詳細表面結構的圖像。SEM由於其成像系統而產生樣品對比度較高的圖像,而其低電子束能量造成樣品損傷最小。操作PHILIPS/FEI XL30直觀,具有易於使用的控制面板,可調節光束電流和加速電壓。光束電流的調整很簡單,可以通過一個開關的輕彈來完成.為了用戶舒適,XL30設計具有低頻振動和噪聲抑制功能.FEI XL30專門設計用於非導電樣品的高分辨率成像,可用於各種樣品的成像、測量和分析。在樣品分析方面,XL 30可以對任何類型的樣品進行定性、化學或3D分析。當與反向散射檢測器一起使用時,檢查弱導電樣品成為可能,而SEM支架可以用來旋轉樣品樣品。此外,PHILIPS/FEI XL 30與一系列能量色散探測器結合使用,可以在更深層次上提供半定量元素分析。FEI XL 30 SEM用途廣泛,適用於一系列樣品分析技術,產生對樣品損害最小的高分辨率圖像。用戶友好直觀,對希望對各種標本進行詳細分析的科學家和研究人員都有幫助。
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