二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9211547 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2是一種掩模和晶片檢查設備,它結合了增強的成像和掃描性能以及先進的缺陷檢測和分類能力,能夠快速準確地表征所有掩模和模具缺陷。該系統旨在檢測單倍或多級檢查中的異常。它還提供了高級算法來檢測以前看不見的缺陷或過程缺陷。該單元包括一個晶片/蒙版-觀看器與集成激光掃描儀的高分辨率放大和成像。AMAT SemVision G2外形小巧輕巧,使用方便,是基準和半導體晶圓廠環境的理想選擇。它具有高功率的LED照明,可改善對比度,以及精密的光學機器,可快速準確地進行檢查。集成的晶片/掩模平整度檢查工具可確保掩模和模具表面保持平面和精加工水平。該資產的設計易於設置和校準，有多種選項可用於不同的檢查方案。這允許用戶在幾秒鐘內快速檢查大量切丁設備。模型的檢查速度能夠在幾分鐘內捕獲多達100萬個設備圖像。APPLICED MATERIALS SemVision G2還支持自動缺陷審查（ADR）以提高缺陷表征精度。SemVision G2設備還支持缺陷成像，允許用戶在晶圓表面和橫截面映射中查看缺陷的多個圖像。這有助於根據設備的形狀、大小和位置對缺陷進行準確分類。系統還支持基於規則、模式匹配、圖像分析等多種類型的缺陷檢測算法，以更好地識別和表征缺陷。此外,該設備還提供實時同地成像功能,用於快速精確的缺陷檢查。AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2機器提供快速的周轉時間、出色的重復性和精確的設備性能。借助集成編輯器，用戶可以快速查看檢查圖像，創建蒙版和晶圓布局圖，調整圖像對比度和亮度。直觀的用戶界面還提供有關缺陷覆蓋範圍和缺陷清晰度的清晰信息。AMAT SemVision G2具有增強的功能和多種功能,是滿足掩模和晶圓檢測需求的完美解決方案。