二手 CAMECA TOF-IMS 4F #9351327 待售

CAMECA TOF-IMS 4F是由CAMECA開發的用於研究表面和界面的高性能二次離子質譜儀（SIMS）。其設計基於飛行時間（TOF）質譜技術和四場離子光學設備。儀器利用二次離子源產生指向樣品表面的聚焦離子束。當離子在樣品的深度剖面中相互作用時,離子與樣品相互作用,從而允許對表面和界面進行深度剖面分析和表征。二次離子根據其質荷比分離，使用MCP檢測器檢測。該系統的TOF特性允許快速獲取質譜和全面的元素識別。TOF-IMS 4F單元具有更好的空間分辨率,能夠更精確地進行深度分析和成像。離子光學器件由等離子源陰極、差分萃取機、離子鏡和二次電子抑制器組成。離子光學工具允許從樣品表面快速獲取高分辨率二次離子質譜。氣體耦合低能電子探測器（GC-LEED）也可用於成像樣品表面。CAMECA TOF-IMS 4F還提供了廣泛的應用，如表面分析、材料表征、原子分層深度剖析、表面結構成像和樣品表征。該資產還可用於元素識別和表面分析應用，包括半導體表征、表面和界面分析、汙染表征和故障分析。TOF-IMS 4F是一款功能強大、用途廣泛的材料研究工具，提供高靈敏度和速度、低功耗、出色的樣品表征能力。此外,還可以通過附加附件升級型號,以獲得更多功能。