二手 KLA / TENCOR AIT 8010 #80434 待售

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ID: 80434
晶圓大小: 8"
優質的: 1998
SURFSCAN Defect inspection system, 8" Crated and stored in a warehouse 1998 vintage.
KLA/TENCOR AIT 8010是用於半導體工業發展的最先進的晶圓測試和計量設備。它將高級計量功能與自動晶圓測試相結合,使其成為監測多個加工階段和提高產品產量的理想工具。KLA AIT 8010基於K-Space Metrology(KSM)平臺,采用高分辨率、非接觸式激光幹涉測量來測量3 D Warp/CDH(寬度、高度和徑向)地形。KSM技術為系統提供了高度精確和可重復的測量範圍,最大可追溯精度為0.5nm。這樣就能夠精確測量晶圓表面信息,然後對其進行分析,以提供對不同工藝步驟中微觀結構變化的寶貴見解。它還提供了出色的自動化功能,使無數晶片能夠快速輕松地進行測試。該裝置配有全自動速度定位機以確保快速準確的操作,以及全自動的樣品處理工具以確保精確的樣品放置。通過提供高速、高分辨率成像和定量缺陷分析的可調光場光學資產,實現了高級成像。此外,TENCOR AIT 8010采用強大的多用戶數據管理模型構建,該模型與基於Web的安全服務器同步,可輕松訪問、共享和存儲數據。這樣就可以實現無縫協作,同時從世界各地的工作站訪問數據。總體而言,AIT 8010是一種多功能的晶圓測試和計量設備,它將先進技術與自動化過程相結合,以幫助最大限度地提高晶圓性能和質量。它是一個強大的解決方案,旨在滿足當今半導體技術的苛刻要求。
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