二手 KLA / TENCOR P15 #9407612 待售

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ID: 9407612
Surface profiler Micro head IIsr PN: 401994 Missing computer faceplate Vertical range (m) 6.5 (13) 0.008 32 (64) 0.04 173 (327) 0.2 Power supply: 100 V, 4 A, Single phase, 50 Hz.
KLA/TENCOR P15晶片測試和計量設備是一種精密的半導體質量保證系統,旨在精確測試和測量半導體晶片的特性和性能。它能夠在矽仍處於基板形式的情況下進行檢測,以及在它被切成單獨的集成電路之後進行檢測。該裝置采用圖像識別技術和先進算法對晶片進行分析,具有檢測顯微鏡的特點。向用戶提供了在整個圖像中突出顯示的缺陷及其特征的詳細報告。內置的計量機器能夠對單個模具進行測量,數據報告精度為1納米。KLA P-15利用了一個掃描電子束,該電子束是一致的和可重復的,分辨率低至2微米。這樣可以進行高精度的稀釋,以及對諸如顆粒汙染物等缺陷以及汙漬、粉塵和電導率進行高效、準確的分析。該工具提供了幾種獨特的功能,使其與同類工具相比具有很高的準確性和效率。其獨特的橫梁技術允許同時查看晶圓的頂部和底部,使其速度比傳統的單束掃描顯微鏡快30倍。TENCOR P 15還擁有先進的反向散射電子成像模型,大大提高了所有缺陷測量的精度。TENCOR P 15的自動缺陷分級資產根據嚴重程度將檢測到的所有缺陷分為低、中、高和臨界四個級別。這允許自動觸發用戶預定義的操作,例如警告、停止或繼續檢查或高級計量功能。P-15標準配備了一套綜合軟件,用於全面晶圓測試和計量。可以分析各種不同的測量,包括晶圓厚度、結構深度和裂紋深度,以及輪廓確定、層壓參數和復雜的圖樣分析。總之,TENCOR P-15晶片測試和計量模型是一個強大的工具,可以用來高效、準確地測試和測量半導體晶片的特性和性能。KLA P15通過其先進的成像技術、內置的計量設備和全面的軟件,能夠以無與倫比的精度提供可靠的結果。
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