二手 KLA / TENCOR P1 #171037 待售

KLA/TENCOR P1是為半導體制造工藝設計的自動化計量和晶圓測試設備。它能夠快速評估和分析光掩模和晶片的結構特征,為行業中的工人提供比手動實現的更高的準確性和精確度。系統的內置組件利用計量技術，如2D和3D光學檢查和散射測量，以及晶圓級測試和電屈服分析。這兩種技術的結合使設備能夠檢查和分析晶片的物理和電氣特性。該機器能夠分析到10nm的分辨率下的模式,並且可以用於晶片的正面和背面檢查,從而實現對兩層的精確目視檢查。這允許檢測晶片中的各種缺陷，如分層、汙染、芯片和劃痕。KLA P-1還結合了先進的信號處理，以提高測試結果的準確性。該工具收集和存儲晶圓上數十個點的數據，使用戶能夠比以往任何時候都更精確地跟蹤電阻和信號完整性等屬性。該資產具有易於使用的觸摸屏界面，允許用戶快速準確地對模型設置進行調整或執行數據分析任務。僅需單擊幾次即可輕松啟用或禁用自動數據收集和報告生成等高級功能。除了計量和晶圓測試功能外，TENCOR P1還提供了集成的制造過程控制設備，使用戶可以在生產過程中監控產品質量。該系統可以提醒用戶註意可能出現的問題,使他們能夠快速高效地采取糾正措施。與傳統的測試和計量系統相比,P1提供了更高的靈活性和精度,使其成為半導體工廠和其他以技術為中心的行業的理想解決方案。通過簡化測試和監測晶片生產的過程，這個單元有助於大幅降低生產成本，同時節約資源和提高產量。