二手 KLA / TENCOR P20 #184141 待售

KLA/TENCOR P 20是一種晶圓測試和計量設備,能夠精確測量晶圓過程控制所必需的參數。該系統設計用於半導體制造、數字信號處理、醫療設備等高性能光學計量應用。該單元有許多不同的特點，使其適合評估範圍廣泛的半導體晶圓。機器的核心是PixThinTM圖像傳感器陣列,它提供高分辨率和出色的信噪比,以及廣泛的動態範圍。傳感器以市場上任何其他工具無法比擬的速度捕獲和存儲圖像。這樣就能夠對各種晶圓特性進行可靠和精確的測試,例如摻雜水平、幾何形狀、線寬和傾斜,且誤差風險最小。KLA P-20的另一個關鍵特性是其Micro Track TM軟件，它能夠精確控制和測量晶圓特性。該軟件測量晶圓的特性到納米精度，以及線寬、層厚度等等。它還能夠精確捕獲和分析廣泛的晶圓形狀，如扁平、矩形、彎曲和橢圓晶圓。該資產還具有先進的低溫測量模型，即使在低溫下也能進行精確計量。這對於需要納米級精度和可重復結果的應用非常重要,例如測試制造過程的精度或控制數字信號處理設備。TENCOR P 20可用於一系列應用，從半導體制造的晶圓測試到數字信號處理器件的晶圓測試。高精度、高速度、高可靠性,是確保質量控制和可靠結果的理想之選。其特性範圍使得它成為各種應用的理想選擇，無論是用於測量摻雜水平還是驗證信號完整性。