二手 KLA / TENCOR FT-600 #178694 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

ID: 178694
優質的: 1991
Film Thickness Measurement System Power: 115 Volts, 50/60 Hz, 1500 Watts Microscope includes five reflected-light Olympus objectives: - MS Plan 2.5X/0.07, 5X/0.13, 10X/0.30 and 20X/0.46 - ULWD MS Plan 50X/0.55 Includes cassette-to-cassette (C2C) wafer handler with 200mm-wafer trays, PC controller 1991 vintage.
KLA/TENCOR FT-600是一種先進的晶圓測試和計量設備,設計用於在制造過程中檢查半導體晶圓。該系統在一個平臺中結合了高速測量、先進的缺陷管理和穩健的過程控制,使單模和晶圓級缺陷的檢測成為可能。KLA FT-600提供一系列測量,如無損光學計量、電氣參數測試和視覺成像。該單元還提供各種模具級和晶片級測量,包括一納米或更高的非接觸式地形測量精度、基於特征大小算法的測量能力以及最多八層的詳細3D成像。使用這臺先進的機器,用戶可以快速準確地測量厚度、輪廓、均勻性、步高、螺距和邊界形狀等參數。該工具具有用戶友好的界面,使操作員能夠快速了解資產並優化其工作流程。TENCOR FT-600還提供高級缺陷管理功能,如每晶圓多達100個活動缺陷、操作員通知、小於1微米的位置精度以及集成激光標記控制。FT-600還提供了可靠的過程控制和可追蹤性,並在每個晶片上實時顯示過程監控和反饋數據。KLA/TENCOR FT-600提供多種功能,例如可配置的自動化編程語言、用於快速測試和驗證的高級交換機矩陣以及存儲的數據庫,供將來參考。此外,該模型還配備了四個離散模具每個晶片檢查,允許用戶確認整個晶片的模具特性與單個探頭。KLA FT-600還提供對環繞環境的全面控制,允許精確的過程控制和處理高度敏感的晶片。TENCOR FT-600設備是一種先進、高度精確和高效的晶圓測試和計量系統,用於半導體加工的精確表征和監測。此單元提供多種功能,例如無損光學計量、電氣參數測試、視覺成像、缺陷管理和過程控制。憑借其強大的功能,用戶可以快速準確地檢查晶片並優化其工藝流程。
還沒有評論