二手 KRUSS G10 #183074 待售

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製造商
KRUSS
模型
G10
ID: 183074
Drop Shape Contact Angle Analysis System Images of sessile drops, enclosed bubbles and pendant drops can be fitted to yield surface tension, interfacial tension, and contact angle data Zoom objective allows drop image to always be shown at the maximum size possible Can be used on solids.
KRUSS G 10是一種先進的晶圓測試和計量設備,設計用於多種應用。KRUSS G 10利用先進的計量技術來測量、分析和報告半導體晶片的電氣和物理特性。該系統能夠單次測量多達4000個二極管,提供有關晶圓特性的高度準確和詳細的信息。G 10單元包括高級光學成像功能,允許用戶在晶圓表面上缺陷和測量各種特征。晶圓熱控制、產量和均勻度測繪、工藝窗口測繪、光學誘導的材料變化和粒子分析等多種特征都能夠進行測量和快速監測。晶圓被照亮,圖像被獲取實時反饋,以便於模式匹配。除了光學成像,G 10機還提供電氣晶圓探測功能。這是使用專用的晶圓映射解決方案完成的,該解決方案允許對多達4000個二極管進行完整的電氣測試映射,從而獲得更準確和可重復的結果。該工具還能夠映射和測量電接觸點,使用戶能夠準確確定是否存在電接觸。KRUSS G 10資產還具有高度可定制的用戶界面,允許用戶配置和定制模型以滿足其特定需求和偏好。此外,還提供各種特定於應用程序的軟件插件,確保提供最準確、用途最廣泛的晶圓測試和計量設備。所有KRUSS G 10系統都附有終身支持和維護政策,確保在出現任何問題或復雜情況時,用戶能夠及時獲得可靠的支持。這讓用戶在使用系統時安心,因為他們將有信心知道自己的投資受到保護。總體而言,G10是一個先進的晶圓測試和計量單元,為用戶提供精確度、精確度和多功能性的最佳組合。由於能夠測量和分析半導體晶片上廣泛的電氣和物理特性,G 10已成為許多行業可靠可靠的工具。可自定義的用戶界面還確保用戶能夠配置計算機以滿足他們的確切需求。KRUSS G 10采用終身支持和維護策略,可以讓用戶在購買時安心。
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