二手 RUDOLPH WS 3840 #9407611 待售

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ID: 9407611
Wafer scanner system.
RUDOLPH WS 3840是一種晶圓測試和計量設備,設計用於晶圓和元件的精確評估和鑒定。它具有可靠和通用的紅外成像系統,能夠測量和分析晶片和元件的尺寸、形狀和表面特性,精度高達10納米。該單元可以以最高的精度和可靠性測量中尺度、納米尺度和特征關鍵區域中的關鍵尺寸。它配備了集成成像機,可實時可視化晶圓或組件的表面地形,分辨率高達0.5 µm。此外還有一個精密機動化的X-Y-Z級和可編程掃描模式,使工具能夠進行快速、準確和可靠的測量。RUDOLPH WS3840能夠測量不同的參數,如物理和幾何特征(寬度、長度、面積和半徑測量)、表面粗糙度和粒徑分析。它的軟件能夠對測量結果進行有效的評估、分析和報告,從而節省時間並提高總體準確性。WS 3840還以高精度、重復性和可靠性著稱。它具有熱電控制資產和空氣懸架,以減少噪音和振動,更好的工作環境。它配備了高效的隔熱系統,以保證精確的溫度,從而提高測量結果的穩定性和重復性。此外,它的自動校準模型通過將儀器漂移保持在指定的值內來確保測量的最高精度。總之,WS3840是一種功能強大的晶圓測試和計量設備,旨在為晶圓和元件提供可靠和準確的測量。其集成成像系統、精確的電動X-Y-Z級以及可編程掃描模式,使其成為各種測試和計量任務的通用解決方案。這一單元還以其可重復性和可靠性著稱,這使得它每次都能提供精確精確的測量結果。
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