二手 SEMITEST Epimet #196461 待售

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SEMITEST Epimet
已售出
ID: 196461
優質的: 1998
Epitaxial Metrology System, 1998 vintage.
SEMITEST Epimet是一種晶圓測試和計量設備,設計用於提供高度精確的計量、模具分選和微電子元件的無損檢測。該系統采用全自動4英寸晶圓測試套件,具有20KV加速電壓、無人值守操作和針對特定用戶流程需求而設計的模塊配置。Epimet的模具排序能力旨在檢查晶片的生產和質量控制。該裝置采用自動計量機,配有先進的光學工具,用於檢測晶圓中的凹坑、劃痕或汙染物等缺陷。其先進的分選算法旨在在檢測電子短路的同時,可靠地開發晶圓缺陷的模式。SEMITEST Epimet具有用於模具縫合的高分辨率光學彩色相機,以確保精確檢查。通過8X放大檢測,資產可以精確定位晶圓表面的缺陷到1-5微米。這種能力允許用戶檢測其半導體器件中的亞微米特性。此外,Epimet還提供無損檢測解決方案,包括高速光學電氣測試(OET),它允許對晶圓上的多個測試位置同時進行電氣測試和光檢查。它還為高速數據收集提供了同軸電流探針測試。該模型是為生產效率、可靠性和長期成本效益而設計的。它采用模塊化設計,便於重新配置,增強了測試設備適應不斷變化的需求的能力。SEMITEST Epimet也與其他測試系統兼容,因此用戶可以最大限度地提高其測試過程的生產率和成本效率。該系統旨在為用戶在微電子元件的檢測測試中提供高精度、高速、可靠的性能。從模具排序和無損測試應用到光學表征和計量,Epimet提供了一個全面的晶圓測試解決方案。
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