二手 VEECO / SLOAN DEKTAK IIA #197824 待售

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ID: 197824
優質的: 1984
Wafer Surface Profiler.
VEECO/SLOAN DEKTAK IIA晶片測試和計量設備是一個自動化和多用途的計量平臺,旨在滿足各種應用的地形和納米表面表征需求。該系統為半導體制造、研發和分析表面科學領域的應用提供低調、非接觸式的診斷。VEECO DEKTAK IIA使用電容驅動的非接觸觸控筆測量單元,適用於表面粗糙度和步高以及表面電阻率/電導率的相關測量。SLOAN DEKTAK IIA實現了低0.1微米(10-nm)垂直分辨率的電阻掃描,以精確捕獲樣品上甚至最小的地形特征。掃描速度和接觸力是可調的,允許用戶調整機器以更好地適應被觀察樣品的需要。DEKTAK IIA提供高達1000X的動態範圍,允許對高長寬比樣品進行精確和可重復的測量。直觀的軟件包允許用戶自定義顯示以顯示輪廓映射、橫截面輪廓和其他圖形表示。這樣可以快速識別樣品上的形態特征,為用戶提供對樣本的全面了解。除了簡單測量地形特征外,VEECO/SLOAN DEKTAK IIA還可以用於各種晶圓測試和計量應用。這包括光刻、制版、金屬間介電測量、非接觸式化學濃度測量。VEECO DEKTAK IIA還配備了可選的紫外線光源,可直接成像光阻和光阻層厚度。為了確保最準確的結果,SLOAN DEKTAK IIA還為各種樣本量提供了廣泛的樣本持有者。這樣可以確保樣品安全保存到位,而不會在測量過程中發生移動的風險。DEKTAK IIA專為自動化操作而設計,可為各種計量需求提供快速可靠的數據收集。
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