二手 MULTILANE ML 4054-400 Gen 2 #293640895 待售

MULTILANE ML 4054-400 Gen 2是MULTILANE開發的電子測試設備（ATE）。該ATE作為一個開箱即用的解決方案,用於表征高速數字設備和集成電路（IC）。該儀器提供了前所未有的配置能力,使操作員能夠快速輕松地定義串行接口和數據協議。利用此功能,用戶可以簡化測試過程並降低開發成本。ML 4054-400 Gen 2 ATE支持高速數字和混合信號接口,如LVDS、CML、PCIe和HDMI等。它具有先進的信號質量性能，允許以高達16 Gbps的速度全面測試高速信號。該設備還提供了全面的測試環境，允許用戶執行自動化的設備表征和系統級模擬。此外,ATE旨在滿足當今高速應用程序的嚴格要求,並提供針對ESD、電源故障和其他常見威脅的全面保護。MULTILANE ML 4054-400 Gen 2 ATE具有很高的可編程性，使得它適合硬件設計者和IC設計者需要配置單元以匹配他們正在測試的設備（DUT）。該儀器能夠控制差分驅動水平和高速信號，在設置測試參數時允許最大的靈活性。廣泛的腳本和腳本功能使用戶能夠快速輕松地對機器進行編程,以確保獲得可靠的結果。此外,ATE還具有各種靈活的觸發、同步和控制功能,可幫助自動化測試。ML 4054-400 Gen 2 ATE包含多個圖形用戶界面（GUI）,使其能夠快速輕松地進行設置和配置。它還具有嵌入式設計語言，使儀器可以用作自動測試工具（ATS）。該儀器與專有的MULTILANE Pattern Generator（MPG）耦合，簡化了模式執行的過程。此外,ATE支持低級嵌入式固件操作,使儀器能夠有效地控制多個I/O引腳。MULTILANE ML 4054-400 Gen 2 ATE還有一個內置的模擬引擎和性能指標資產，允許用戶確定自己的設備是否符合產品規格。該模擬器可幫助用戶可視化其結果,並為他們提供有關其設計執行方式的見解。它還支持數據分析工具,幫助用戶更徹底地排除其設計故障。ML 4054-400 Gen 2 ATE是一種用於電子測試和表征的多合一解決方案。其先進的特性、靈活性和可編程性使其成為高速設計和表征不可或缺的工具。