二手 RESEARCH INSTRUMENT MBR #293633212 待售

ID: 293633212
EUV Reflectometer Spectral range: <12.5 nm to >14.5 nm Spectral resolution:1.7 pm Measured spot size: 250x100 µm² Accuracy (CWL_50): ≤3 pm Precision (CWL_50): ≤1 pm Peak reflectivity: Accuracy Rpeak 65%: ≤ 0.5% absolute Precision Rpeak 65%, 3σ: ≤ 0.5% absolute Accuracy Rpeak 1%: ≤ 0.05% absolute Precision Rpeak 1%; ≤ 0.05%, 3σ: ≤ 0.02% absolute.
研究儀器多束反射計(RESEARCH INSTRUMENT MBR)是一種專門為研發應用而設計的電子測試設備。用於測量材料的性質,包括頻率響應、吸收、反射和阻抗。這臺儀器也被稱為反射計,設計用於與多種接口配合使用,包括RF/USB、數字信號處理和模擬信號處理。MBR包含幾個組件,包括信號發生器、信號分析器、示波器、放大器和信號調節器。信號發生器用於產生射頻信號,而信號分析儀處理信號並為用戶提供一組測量。示波器通常用於監測信號發生器產生的信號,放大器放大和放大信號。最後,信號調節器有助於平衡和修改信號,確保獲得所需的測量值。典型的RESEARCH INSTRUMENT MBR設備包括附加組件,如RF/USB接口和軟件包。RF/USB界面允許用戶將MBR連接到計算機,軟件包為數據收集、分析和摘要提供了必要的工具。軟件包還允許RESEARCH INSTRUMENT MBR系統的編程,允許進一步的定制。MBR系統設計用於測試多種材料,包括金屬、聚合物、電介質和稀土。根據所測試的材料,用戶可以選擇特定的參數,例如脈沖寬度、斜率和頻率響應。這些參數在RESEARCH INSTRUMENT MBR系統中是可調的,有助於確保精確的測量。MBR單元還設計用於多種物理結構,包括薄膜、多層結構和諧振器。用戶可以選擇多種技術,如透射測量、反射率測量和偏振反射率測量,以洞察所研究材料或結構的行為。利用RESEARY INSTRUMENT MBR進行研發有幾個優點。由於能夠測量各種材料的反射、吸收和阻抗,用戶可以快速準確地捕獲材料上的數據。這樣可以加快產品的開發,從而加快產品的上市速度。此外,MBR機器的設計相對易於使用,允許經過最少培訓的用戶放心地使用該工具。
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