二手 ROHDE & SCHWARZ SFL-T 2084.4005K20 #9002367 待售
網址複製成功!
ROHDE&SCHWARZ SFL-T 2084.4005K20是一種雙端口矢量網絡分析儀,設計用於對射頻和微波組件進行高度精確的測試。它是一種高端、最先進的測試設備,用於各種射頻和微波系統的高級故障排除和表征。它提供了對微波頻率高達40 GHz的有源和無源元件的快速準確的表征。ROHDE&SCHWARZ SFL-T 2084.4005K20提供多種功能和測量功能,使用戶可以進行高度可靠和精確的測量。它包括一個直觀的圖形用戶界面,提供簡單的操作和全面的參數功能。它允許用戶定義測量場景,測量時域反射計(TDR)和阻抗分析,並進行諧波平衡分析。該設備可以測量多種參數,如插入損耗、返回損耗、相位測量、組延遲和調制帶寬。它還提供了頻域和時域顯示類型。頻域顯示類型提供了整個頻域詳細信息的全面視圖,而時域顯示類型則允許更詳細地查看頻率相關參數。ROHDE&SCHWARZ SFL-T 2084.4005K20的動態範圍很廣,可達130 dB,即使在高反射性環境中也能進行可靠和精確的測量。它還包括兩個用於互調失真測量的集成頻率擴展音。其他測量功能包括多端口測試、對稱測試和阻抗分析。設備由PC或筆記本電腦供電,並通過以太網接口或USB連接進行控制。它與ROHDE&SCHWARZ測試和測量軟件完全兼容,允許高水平的控制和集成到整體測量系統中。ROHDE&SCHWARZ SFL-T 2084.4005K20是為各種射頻和微波系統的高級故障排除和表征而設計的高度可靠和精確的測試設備。它提供了一套全面的參數特征,允許對各種參數進行可靠和精確的測量。它由PC或筆記本電腦供電,與ROHDE&SCHWARZ測試和測量軟件完全兼容,允許高水平的控制和集成到整體測量系統中。這種先進的矢量網絡分析儀提供可靠和精確的射頻和微波組件的測試。
還沒有評論