二手 TEKTRONIX DTGM 30 #9191131 待售

TEKTRONIX DTGM 30是一種電子測試設備，設計用於測量電子系統的頻率響應。它由兩個主要部分組成：測試設備控制器（TSC）和數據采集系統（DAS）。TSC為操作員提供了一個可以控制TEKTRONIX DTG M30操作的用戶界面。DAS包括模擬信號調節單元、控制邏輯和數字信號處理器（DSP）。DTGM 30具有多項功能,可有效獲取信號。它能夠同時測量多達3個頻率響應通道，給出精確和可重復的結果。它還配備了內置信號平均，減少噪音和不需要的測量誤差。此外，它還有一個專用的通道來測量被測機器的組延遲，這是確定刀具頻率響應的關鍵因素。DTG M30還有一個內部多步事件觸發資產，允許操作員從各種輸入源觸發測試的開始。觸發模型允許精確控制測試的開始，以確保精確的測量。該設備在測量具有高動態範圍和低信噪比（SNR）的系統時尤為重要。TEKTRONIX DTGM 30使用一種稱為載波控制鎖相環（CC-PLL）的技術來測量信號的振幅和相位。這項技術依靠振蕩器的精度產生一個參考頻率，該頻率鎖定在傳入測試信號上。這樣可以確保準確測量所有頻率響應,而不會產生任何不必要的抖動或延遲。此外，TEKTRONIX DTG M30可以編程進行諧波測量。這使得測試系統操作員可以同時測量單元在多個頻率上的頻率響應。這消除了逐一測量多個振幅和相位的需要。最後，DTGM 30支持廣泛的通信協議。這些協議允許測試機器與其他設備和軟件進行通信。這樣就不需要額外的測試設備，允許操作員遠程控制測量參數。綜上所述，DTG M30是一種電子測試設備，能夠以精確和可重復的方式測量電子系統的頻率響應。其內置特性，如信號平均、事件觸發、載波控制的鎖相環路以及廣泛的通信協議，使其能夠快速高效地收集高精度的結果。