二手 TEKTRONIX P6133 #9264343 待售

TEKTRONIX P6133是一種電子測試設備，設計用於探測具有嵌入式內存系統的設備上的高速、高頻信號。它是一種提供最大信號保真度和最小電壓瞬態的高性能測試探針。它具有特殊的低偏轉尖端，旨在減少高速過渡造成的超調和下沖。P6133具有創新的設計,可以快速、輕松地將刀尖安裝到位,從而在各種測試方案中快速、方便地使用。探頭的低偏轉尖端旨在減少高頻躍遷產生的電壓波動。其高頻性能因電容為0.5 pF而進一步增強。探頭的高頻響應也因其0.5 pF的低電容負載而增強。這種低負載允許設備進行測試，而不會產生與高電容負載相關的速度損失。TEKTRONIX P6133探測器具有高達30 GHz的擴展頻率範圍和高信號保真度。它還具有低調的特點，使得它非常適合空間受限的測試環境，以及0到500 V的寬動態範圍，這使得它適合測試各種設備如DRAMS、SRAM和閃存。它的低電容有助於確保最高的信號完整性和最小的串擾。P6133探頭還具有獨特的彈簧超調技術，旨在降低高速測試過程中的振鈴噪聲和超調。這樣可以在測試過程中提供穩定的信號,確保準確性和可重復性。它還采用自校準技術，在測試過程中確保正確的探針補償。TEKTRONIX P6133既可用於基準測試應用程序,也可用於便攜式測試應用程序。它的手提箱設計可以承受頻繁的操作，使其在各種測試場景中都非常耐用。P6133還配有矽防塵罩，以保護它免受碎片和其他環境因素的影響。總體而言，TEKTRONIX P6133是一種高度通用的測試探針，非常適合探測嵌入式內存系統上的高速、高頻信號。它提供高性能、快速設置和最小的電容負載。其低偏轉尖端提供高頻響應，能夠進行準確的測試而不會招致速度損失。其自校準技術進一步提高了精度。它非常適合各種便攜式和基準測試應用程序。