二手 TEKTRONIX SJ300E/03/3C #107568 待售

TEKTRONIX SJ300E/03/3C是一種電子測試設備，用於測量卷軸和半導體元件的特性。這種多用途、多功能的設備旨在滿足制造環境中質量控制和過程監控這一具有挑戰性的要求。該系統采用三維成像、數字速度控制和糾錯技術，對幾乎任何類型的部件進行精確可靠的測量，利用陰影圖像、成像光學質量測量和帶糾錯的數字速度控制三種成像技術，準確捕捉物體的三維特征。利用成像光學器件和數字速度控制,該設備可以對0.5至40 mm的零件在微米範圍內進行有意義的測量。這個通用單元能夠測量各種樣本量和形狀，無論是卷曲的還是半導體的。使用成像光學器件,SF300E/03/3C可以測量樣品的體積、表面積和厚度,從而可以精確確定包裝所需的粘貼體積,並深入了解樣品的結構完整性。此外,該機器還能夠檢測樣品中的缺陷和非均勻性。使用紅光二極管，該工具可以測量表面缺陷面積，使其成為QC或過程監控的理想選擇。SF300E/03/3C提供的數字速度控制可確保整個樣品以恒定速度移動,從而能夠按順序進行多次測量,同時無需持續調整速度控制。該單元還具有糾錯資產,可確保即使是很小的錯誤或過程變化也能立即被檢測和糾正,從而最大限度地減少出現錯誤結果和產品不一致的風險。TEKTRONIX SJ300E/03/3C是一個可靠、經濟高效的單元,可以快速輕松地納入現有的質量控制框架。其強大的成像光學和數字速度控制使其非常精確,使其能夠精確測量各種樣本量和形狀。通過其糾錯模型，可以立即檢測和糾正小錯誤，確保結果一致，降低生產問題風險。總之,TEKTRONIX SJ300E/03/3C是一種高度可靠、通用且經濟高效的設備,適用於任何QC或過程監控應用程序。