二手 ELLIPSOTECH Elli-633-F70 #9249918 待售

ELLIPSOTECH Elli-633-F70 Ellipsometer是一種節省空間的高性能儀器,用於測量薄膜的光學特性和光學厚度。該橢圓偏光計普遍適用於監測各種薄膜，如氧化物、氮化物、金屬和金屬合金，樣品厚度在0.3nm至4000nm之間。Ellipsometer的創新設計具有高度精確的激光和樣品掃描系統,以及直觀的用戶界面和易於使用的基於窗口的環境。該系統允許用戶在大樣本區域內快速準確地測量各種薄膜特性。橢圓偏振儀能夠測量光學厚度、折射率、消光系數、光學常數、發射光譜、吸收率、入射角、薄膜類型、厚度均勻性、折射均勻性、波導壽命、層間距等多種特性。由於系統的可重復性和可重復性,可以絕對放心地進行這些測量。橢圓偏振儀利用偏振激光束測量薄膜光學特性。入射光束由波長為633 nm的Nd： YAG激光源產生，由s-和p-偏振光組成。光的入射角是可調節的，角度靈敏度為10-5弧度，使用戶能夠精確測量薄膜的光學特性。橢圓偏振儀使用計算機控制的樣品平移級和樣品位置檢測器，以確保準確的樣品定位和最佳的入射角。這使得儀器能夠精確地測量薄膜的光學特性，具有更高的精確度和可重復性，使用戶能夠根據目標在幾小時、幾天甚至幾個月的時間尺度內準確評估光學特性。Ellipsometer還可以使用可訪問專業軟件的聯網PC進行遠程操作。這使用戶能夠訪問儀器，並在世界任何地方進行測量，使得執行簡單和復雜的光學測量極為容易和方便。橢圓偏振儀操作簡單，為薄膜性能的測量提供了強大的性能。它具有業界領先的耐用性和魯棒性,可確保長期準確可靠的測量。光學特性的實時圖形顯示使這種儀器易於使用，並幫助用戶快速識別出用於測量的最佳光學參數。