二手 ELLIPSOTECH Elli-SE-F #9117366 待售

製造商
ELLIPSOTECH
模型
Elli-SE-F
ID: 9117366
Ellipsometer OS: Win XP.
ELLIPSOTECH Elli-SE-F橢圓儀是薄膜表征和質量控制的絕佳工具。它允許對薄膜厚度、組成和光學常數進行無損、快速和準確的測量。橢圓偏振儀提供了從任何類型的曲面(包括平面和圓形表面)反射S偏振光和P偏振光的即時結果。它配備了自動光學設備,能夠快速、準確和可靠地分析所有薄膜層,樣品面積直徑可達25毫米。Elli-SE-F利用四軸空氣軸承Y-Z-WA-WP光學系統,能夠將入射光精確對準樣品表面,並通過CCD相機捕獲樣品反射光。該單元與用於角運動的精密步進電機耦合,確保精確的光調制,從而實現精確的測量。該電動機可進行高達0.0001°的角運動,從而實現了測量結果的高精度。Ellipsometer還結合了創新的角度掃描範圍選擇機,包括獨立的圓形掃描選項,以逐層單獨調整角度範圍設置,並選擇最佳的測量模型。此範圍選擇工具允許對每個單獨的樣本進行最合適的掃描周期。ELLIPSOTECH ELLi-SE-F的測量面積可達25毫米,與其他橢圓偏振儀相比,它能夠測量更大範圍的樣品。除此之外,它的可調空氣軸承資產為每個波紋測量提供了樣品的自動定位。樣品支架也設計成符合人體工程學的結構,以最小的努力提供高度可重復的測量。Ellipsometer還具有一個集成軟件,它可以在圖形用戶界面(GUI)屏幕上或以表格形式顯示獲取的數據。這有助於對樣本進行表征,並清楚地顯示所有參數和結果,以便於分析。總體而言,Elli-SE-F橢圓偏振儀是測量薄膜層的有效工具,提供快速可靠的精度結果。它的自動光學模型與符合人體工程學的樣品保存器和角度掃描範圍選擇設備相結合,從而能夠方便地對任何類型的樣品進行更精確的測量。
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