二手 GAERTNER L115 A #938 待售

GAERTNER L115 A是一種自動化的多角度光譜橢圓儀,可以以可重復的方式測量各種材料的光學材料特性。該設備能夠對厚度不超過2微米的薄膜層進行強大、快速和高度精確的表征，範圍從非磁性半導體到透明材料、介電和有機層、磁性材料以及其他金屬薄膜結構。它具有快速測量各種材料一次最多四個光譜角度的光學性質的能力，使用戶能夠獲得更多信息，更好地了解其樣品的表面結構。L115 A使用自動化的樣品放置、定位和特性,使過程更快速、更簡單和可重復。橢圓偏光計結合了自動波長選擇和始終精確的激光掃描角度，產生了前所未有的精度和可重復性。此外,它還具有閉環同差檢測系統,可確保進一步的精度以及快速的數據采集和解釋。分析數據采集軟件包是專門為使用戶快速收集數據而設計的。它還提供了快速、方便的結果獲取，以便能夠將橢圓偏振結果與測量單位內的其他特征化技術進行綜合評估。此軟件易於升級,允許用戶包括其他功能,以增加對樣本表面結構的了解。除了量身定制的計量能力外，GAERTNER L115 A還包括電動x-y-z定位臺、樣品更換器、自動對準顯微鏡、自動樣品導航機、大氣壓區域探測器和汙染監測器等附加功能。L115 A的操作附件種類繁多,從自動放置樣品到用戶友好的數據采集軟件,使橢圓偏光儀成為在要求苛刻的環境中進行薄膜表征和材料特性分析的理想工具。