二手 GAERTNER L115 #131671 待售

GAERTNER L115是一種專門的光學儀器，用於測量薄膜和納米結構的光學特性。它通常用於半導體制造、材料科學、納米結構和光學塗層領域。該橢圓偏光計利用偏振光來確定樣品的光學特性。該儀器具有模塊化、靈活自動化和易於使用的平臺。它配有光纖，45°-傾斜-橢圓形偏光計，角範圍寬30-160°，用於測量樣品的光學特性。除橢圓偏光計外，該系統還配備了自動化樣品處理系統，提供機動性，並允許來自不同容器的樣品自動交換。該系統的其他技術組成部分包括一個強大的電動顯微鏡物鏡，用於樣品檢查和幹濕清潔抽水系統。該儀器能夠測量樣品的多種光學特性，包括雙折射、光學各向異性、厚度、折射率和吸收系數。橢圓偏光計測量這些特性的能力允許對薄膜、層和納米結構進行全面表征。利用先進的軟件平臺，儀器提供了整個測量過程的自動化。這使用戶能夠快速輕松地進行測量。此外，該軟件還提供了一個測量樣本數據庫，提供數據管理和分析。軟件還具有圖形用戶界面（GUI），可以以各種格式導出數據。L115是各種科學應用的完美工具。它的自動化平臺和通用軟件使研究人員能夠準確、快速地測量薄膜、層和納米結構的光學特性。其易用性、靈活性和全面的數據分析功能使其成為眾多研究領域的理想工具。