二手 GAERTNER L115 #9144443 待售

GAERTNER L115是專門為現代材料研究而設計的研究級光學橢圓儀。它測量光從表面反射時的偏振狀態變化，用於確定薄膜材料的光學和表面特性信息。L115使用由兩個偏振分析濾波器和計算機控制的「偏振分析器」組件組成的光頭。這使得GAERTNER L115能夠在與樣品相互作用時精確測量光的偏振狀態變化。這使得橢圓偏光儀可以測量材料在8-85°角範圍內的反射和透射特性。該系統還能夠測量各種環境中的樣品，包括環境空氣、真空和氣體。L115具有自動化系統,可以快速連續采集多個樣本。該系統可以測量薄至0.8nm或厚至8mm的樣品。此外，儀器還配備了一個背薄的樣品架，設計用於在測量時保持樣品平坦。GAERTNER L115利用各種軟件包進行數據分析,包括DataFinder、EXcalibrator和XSpectra。DataFinder能夠處理和顯示來自L115的實時和歷史數據,而EXcalibrator有助於樣品準備,並提供測量反射率和透射率的功能。XSpectra是一個功能齊全的軟件包，允許用戶對復雜的材料膜進行建模並執行光學診斷。GAERTNER L115是一種功能強大且用途廣泛的橢圓偏光計,專為質量、精度和可重復性而設計。它為廣泛的材料提供精確可靠的測量，是表面科學、光學過渡金屬、半導體、光學、薄膜材料分析等領域研究人員的理想選擇。