二手 GAERTNER L115 #9176770 待售

GAERTNER L115是由GAE International開發的先進橢圓儀，GAE International是全球領先的橢圓儀制造商之一，廣泛應用。L115提供了對可見波長和近紅外波長下薄膜光學特性的全面測量。這種最先進的橢圓偏振儀配備了一個大的樣品支架，最多可容納四個獨立的樣品組件，並提供包括高精度單波長、雙波長和多波長快速掃描橢圓偏振（RSE）測量在內的多種測量模式。它還能夠獲取通常用於表征膜厚度和光學常數的單一和多個入射角、多波長橢圓偏振數據。該系統先進的光學設計允許對線性和非線性薄膜（如吸收或不吸收薄膜）進行精確的表征。其集成軟件平臺為用戶提供了薄膜厚度測量、光學常數估計、非線性薄膜光學表征以及光譜反射率分析等多種分析工具，而無需支持任何其他軟件。GAERTNER L115可提供精確、可重復的橢圓偏振數據,且操作幹擾最小。它具有重復波長掃描的特點，用於測量薄膜厚度、旋轉對稱結構和光學常數較低的薄膜。它還包括一個集成的4D量熱儀，用於測量像素級薄膜樣品的物理厚度和總光學厚度。集成自動化工具（如測量計劃）和掃描調度可以大大減少與獲取橢圓偏振數據相關的時間,從而顯著提高儀器效率和吞吐量。借助其增強的數據安全功能、加密的調節和保留的內存,即使是最敏感的數據也可以毫無問題地使用。L115可以輕松處理線性和非線性薄膜樣品的一系列樣本類型,使其成為學術實驗室、研究設施、工業和生產應用的理想選擇。其擴大的樣本量和多個樣本量使測量速度比以往任何時候都要快，而其優化的光學設計最大限度地減少了測量時間，從而獲得更準確可靠的結果。GAERTNER L115采用尖端技術構建,可全面表征各種光學和表面特性。憑借其先進的特點、直觀的軟件系統和領先的光學技術，這種橢圓偏光計已成為許多研究和工業應用必不可少的工具。