二手 GAERTNER L115B #9272576 待售

GAERTNER L115B Ellipsometer是一種先進的光學測量系統，旨在精確表征薄膜和光學材料。橢圓偏光計用於測量諸如厚度、折射率、吸收以及表面和界面粗糙度等性質。L115B是使用非偏振光源、單色儀和2個視場探測器的光譜橢圓儀。光源和探測器產生的兩個垂直和水平角度測量反射光的橢圓度和相移，提供了大量關於樣品光學特性的信息。該設備支持多種可選配件，如各種樣品支架、自動樣品高溫舞臺、計算機控制的電動聚焦和自動弧燈。GAERTNER L115B能夠測量從25°到85°的各種角度的光學特性。這樣可以精確地表征非常薄的薄膜，以及更復雜的材料，包括分層和多層薄膜。它還提供高分辨率和廣泛的動態範圍，允許精確表征光學特性。運行L115B的軟件具有廣泛的分析和報告功能。GAERTNER L115B是收集各種膠片和光學材料信息以及執行自動膠片表征的強大工具。它是評估設備生產產量、故障排除問題或深入研究材料的理想選擇。該設備設計為高度可靠且易於使用,具有清晰標記的按鈕和參數,以及板載視頻顯示屏。總體而言，L115B橢圓儀是一種精確的光學測量系統，旨在提供有關薄膜和其他光學材料的詳細信息。它具有廣泛的角度、高分辨率和可自定義的軟件,使其成為應用程序（如薄膜表征和自動薄膜評估）的理想工具。