二手 GAERTNER L115C-8 #9400516 待售

GAERTNER L115C-8 Ellipsometer是一種非常先進的工具，用於精確和無創的表面測量。它是一種光譜工具，用於測量單色光從樣品表面反射後偏振的變化。這種極化或橢圓度的變化是測量材料厚度和折射率變化很小的可靠方法。L115C-8 Ellipsometer具有獨特的設計，具有大直徑的空氣軸承樣品級，使用戶無需人工幹預即可將樣品旋轉360°。它還配備了一個自動XY翻譯階段，允許測量多個樣本而無需重新定位。這個翻譯階段也被設計成支持大的樣品基板高達200毫米方形的大小。GAERTNER L115C-8 Ellipsometer具有很高的光學通量,使其能夠以最大的對比度和銳度測量樣品。它還能夠測量從可見到近紅外的廣泛波長範圍。此外，它的集成光子傳感器陣列被設計為提供高精度的數據，提高對比度和信噪比。在測量精度方面，L115C-8旨在方便以納米級精度測量樣品。它還附帶了多種軟件包,例如橫截面成像軟件,可用於分析和可視化獲取的數據。GAERTNER L115C-8 Ellipsometer可能被用於多種研究、開發和商業上的應用，例如對超薄膜、納米結構、先進材料及其結構、光伏電池和半導體器件的分析。也可用於先進的工程應用，如光學計量、晶圓級可靠性測試等。此外，以納米級精度測量小樣品厚度和折射率的能力使得L115C-8特別適合光學塗層和其他光學敏感材料的表征。GAERTNER L115C-8 Ellipsometer是設計用於表面測量的通用、精確的工具。其龐大的采樣級、集成的光子傳感器陣列以及一系列的軟件包使其能夠以高精度和對比度精確測量納米級樣品。它在研究、開發和產品測試中的多種應用使得它成為一系列行業的有用工具。