二手 GAERTNER L115C #9196917 待售

GAERTNER L115C是一種最先進的光學橢圓偏振儀,旨在測量各種光學特性,包括薄膜的厚度、折射率和薄膜應力。它配備了單色光源、廣泛範圍的探測器和偏振器，以及兩個手動軸的精密光學支架。結合其直觀的用戶友好操作，GAERTNER L115 C非常適合薄膜和其他半導體材料的表征。單色儀提供了190nm-1600nm的廣泛光譜範圍，允許測量在整個光譜中性質差異很大的樣品。系統的高分辨率確保精確的測量，即使在非常低的角度和角度大於70度。檢測器和偏振器與單色儀相結合，可以進行各種角度和偏振的測量。這種靈活性有助於減少測量時間並確保所有測量的準確性。精密光學安裝座提供兩個手動軸，允許為不同的采樣角度和入射角配置儀器。還可以根據需要即時調整角度,以獲取範圍廣泛的數據。安裝的高穩定性確保了準確的測量,並減少了在手動系統中發現的任何漂移。L 115 C還為數據分析和報告提供了多種選擇。它能夠計算和顯示樣品的橢圓偏振參數,並提供有關厚度、折射率和薄膜應力的信息。它還包括用於更高級分析的軟件,例如擬合參數。GAERTNER L 115 C是為實驗室和生產水平研究而設計的高級橢圓儀。其直觀的用戶友好操作、廣泛的數據收集功能,以及易於使用的數據分析和報告功能,使其成為最先進的薄膜表征儀器之一。L115 C具有快速、容易和準確地測量各種光學特性的能力，是任何材料研究實驗室都必須具備的。