二手 GAERTNER L116 #75352 待售

GAERTNER L116是一種最先進的光譜橢圓儀。它旨在測量薄膜、表面種類和多層塗層的性質。該系統利用精密光學和雙偏振光束測量技術測量材料樣品的光學特性。這包括折射率、消光系數、薄膜厚度、表面粗糙度和材料光學常數等參數。L116配備了多種組件,能夠進行科學研究、產品開發和質量控制。該系統基於用於測量樣品光學特性的HeNe激光器。激光能夠在連續或離散模式下產生多個波長，從而能夠進行更精確的測量。激光連接到一個由光電二極管和電荷耦合器件（CCD）相機組成的探測器組件，這兩者都被用來測量樣品在兩個方向上反射的光的強度。探測器組件還包括兩個偏振器，允許測量樣品反射的光的偏振和反射光偏振的方向。GAERTNER L116包括基於計算機的自動化和控制軟件,以及用於數據采集和樣本定位的各種附件。其中包括與系統兼容的高精度翻譯階段和樣本持有者。該軟件還允許對不同的測量序列進行編程,從而能夠自動測試4英寸、6英寸和8英寸的樣品。L116被認為是薄膜和塗層可靠表征的標準。它使研究人員和工程師能夠精確測量樣品的光學特性，直至納米分辨率。它還能夠同時分析各種表面,從而更全面地了解材料的特性。GAERTNER L116的準確性和可重復性使人們對制造過程的質量控制、電氣特性和光學設計的驗證充滿信心,使其成為各種行業的寶貴工具。