二手 GAERTNER L116 #9004443 待售

GAERTNER L116是一種最先進的自動化光譜橢圓儀,專為廣泛的應用而設計。L116提供了一系列厚度在5 nm至4 um之間的材料的薄膜厚度、折射率和光學常數的精確和可重復的測量。該設備由高精度光譜儀和安裝裝置、橢圓偏振儀器、控制器、旋轉木馬樣品、PC接口和軟件組成。該系統在300-1100 nm的波長範圍內運行,分辨率為0.2 nm.該單元允許同時測量光譜橢圓偏振和角度分辨光譜。測量範圍為0-90°，精度為0.01°。橢圓偏光計通過其獨特的特性保持高性能。內部宏板允許實施特殊程序，同時對每個樣本進行自動對齊可確保穩定的性能以及可重復和一致的結果。它的反射率和透射探測器為精確和完整測量所有未知的薄膜特性奠定了基礎。機器能夠根據應用要求用旋轉木馬測量大量樣品。GAERTNER L116非常方便用戶。界面包括可操縱的圖形顯示、簡單的命令語言和遙控Microdeck工具。它還提供了液晶屏，用於設備控制設置、實時膠片厚度、自動樣品旋轉木馬和多重測量。此外,還可以將資產連接到PC,以便對橢圓偏差數據進行後處理。L116適用於許多研究應用，如表征薄膜的化學和物理性質。例如，可以測量沈積在各種基板上的眾多薄膜的光學常數、薄膜厚度、折射率和消光系數。此外，GAERTNER L116可用於半導體器件的質量控制。該模型成功地應用於從半導體和微電子到塗層和醫療相關領域的應用。