二手 GAERTNER L116S #9160082 待售

GAERTNER L116S
製造商
GAERTNER
模型
L116S
ID: 9160082
Ellipsometer 8" Capable PC controlled for measurement Laser wave length 632.8 nm (Helium-Neon - Red) Incidence angles: - 50 and 70 degree's Film thickness: 0 to 60,000 Angstroms Accuracy: +/-3 Angstroms (+/-0.3nm) Repeatability: +/- Angstrom (+/-0.1nm) Power = 110V.
GAERTNER L116S是一種高精度的手持橢圓儀,專為快速精確的材料測量而設計。它提供了質量和薄膜層的精確表征,厚度低至0.3納米,測量僅用毫秒。它用於許多行業,如微電子、光學、半導體等,為產品開發、質量分析和其他材料提供關鍵的測量。GAERTNER L 116S使用橢圓偏振儀原理測量樣品的光學特性。這是通過將偏振光束照射到樣品上並測量由於其反射或折射出樣品表面而產生的偏振變化來完成的。橢圓偏振儀所做的這種表征非常快速準確,因為它提供了反射光的幅度和相位,使得能夠測定樣品折射率(RI)、厚度和其他光學常數。L116S為用戶提供了廣泛的功能。它采用符合人體工程學的用戶界面設計,簡化了設置和操作過程。大型板載顯示屏可確保清晰讀取,而直觀的控制按鈕則可快速導航和調整設置。通過快速更改某些設置,它的旋轉控制旋鈕進一步增加了易用性。為了增加便利,該設備可運輸,並配有USB端口,允許快速連接到各種計算設備。L 116S還提供高精度的光學測量,分辨率為0.003°,測量噪聲低於0.015°。這是通過使用一個特殊的10步濾波器輪來實現的,確保測量精確。橢圓偏光計還具有自動索引校正器,使其能夠提供各種材料的精確索引。GAERTNER L116S是一種用於測量材料光學性能的高度可靠和精確的設備。它直觀的用戶界面、可移植性和廣泛的功能使其成為許多行業專業人士的理想工具。它提供了對折射率、薄膜厚度和其他光學常數的精確測量,從而實現了快速分析和高效生產。
還沒有評論