二手 GAERTNER L117 C #9011501 待售

GAERTNER L117 C是一種橢圓偏振儀，它允許無損精確測量表面特性，包括樣品的薄膜厚度、折射率和光學各向異性。橢圓偏振儀配備了從0°到85°的可變入射角（AOI），允許以多種角度進行測量。L117 C利用布魯斯特角的一個變體，最常被稱為單色可變角橢圓偏振（MVAE）技術，精確測量樣品反射的光的偏振狀態，允許深度剖析高達5微米。GAERTNER L117 C利用一種波長為632.8納米、聚焦並入射到預設AOI樣品上的氦（HeNe）激光器。偏振光再用各種分量反射，包括振幅和相位，決定反射光的相關偏振態。利用L117 C的精密光學器件和基於PC的軟件對這種極化狀態進行了測量和分析，將樣品特性分解為納米範圍內的分辨率。樣品材料的變化可以通過GAERTNER L117 C檢測折射率和光學各向異性變化的能力來檢測，這對於液體和固體界面特性的評估很有用。L117 C還能有效測量非常薄的薄膜厚度，並以0.2nm的靈敏度量化層狀材料表面取向的差異。GAERTNER L117 C與樣品保管平臺集成在一起,使樣品能夠輕松地在x和y軸實驗室表中安裝和移動。支架可支持最大樣品厚度為12mm的200 x 100mm樣品。樣品支架還配備了快速釋放機制，允許快速的樣品裝卸。L117 C是一種無損、高度敏感的橢圓偏光計，可提供各種樣品特性的精確分析。其優越的周向光學元件加上廣泛的AOI測量，加上其直觀的基於PC的軟件，使其成為評估有機和無機薄膜、液體/固體界面以及其他納米結構的理想工具。