二手 HORIBA / JOBIN YVON 23300014W #293644233 待售
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HORIBA/JOBIN YVON 23300014W橢圓偏振儀是一種強大而精確的精密儀器,用於測量薄膜樣品的光學特性。HORIBA 23300014W Ellipsometer利用Ellipsometry技術測量從樣品表面反射的光的偏振態和變化,從而可以分析光學常數,如折射率和樣品的反射率。橢圓表由兩個主要元素組成。首先是入射計,它產生光,然後用偏振分束器偏振,然後入射到樣品上。第二個元素是探測器計,測量反射光偏振的變化。探測器進一步分為一個分析儀,檢測振蕩平面的方向和一個CCD相機,測量來自樣品的反射光強度的變化。根據波光學定律,入射和反射這兩個線性偏振光束排列在垂直於樣品表面的平面上。反射光束與入射光束之間的角度稱為橢圓偏振角度。然後用偏振橢圓偏振法測量兩束光束在不同入射角下的相對行為,即方向和大小。儀器波長635nm,全視野3mm,精度0.8弧秒。該系統還包括一個軟件接口,允許實時捕獲和分析數據,同時實時控制儀器的設置。JOBIN YVON 23300014W Ellipsometer是薄膜樣品分析、半導體晶圓表征、著色劑沈積、表面粘附、化學、材料科學和光學工程等應用的理想儀器。該儀器的設計目的是在實驗室和工業環境環境中提供高精度、可重復性和可靠性。
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