二手 HORIBA / JOBIN YVON UVISEL II #293594976 待售

HORIBA/JOBIN YVON UVISEL II橢圓儀是一種高分辨率原位光學儀器，旨在以高精度測量基板的光學和表面特性。該儀器采用偏振調制光譜橢圓偏振（PMSE）和集成反射光譜（IRS）技術相結合，測量散射在材料表面的光隨入射角和波長的變化。然後,從入射光收集的信息用於生成表面特征化數據,如薄膜厚度、折射率、光學常數和表面粗糙度。HORIBA/YVON HORIBA UVISEL II使用兩個聲光可調濾波器和一個白光源來快速獲取數據。光源和濾波器的這種組合允許可變波長和入射角測量，而光譜儀或其他較不先進的方法是不可用的。例如，波長在200到1000 nm之間的可變波長範圍允許高分辨率的表面表征。可變的入射角範圍為1°-85°,允許以偏離法線的角度精確建模角度。儀器設有電腦控制的機動旋轉臺，以確保精確度。JOBIN YVON/YVON JOBIN YVON UVISEL II還包括一個溫度控制和真空室，以擴大系統在測量溫度敏感材料和樣品時的能力，采用集成的渦輪泵浦真空進行原位測量。這種能力使得測量由於熱不穩定而無法進入的薄膜成為可能。HORIBA/JOBIN YVON/YVON UVISEL II利用了一種用於分析各種參數和材料的多功能軟件。該系統能夠控制機動化階段並快速分析數據。此外，它對用戶友好，便於數據采集和操作。軟件包括參考材料庫,並提供用戶定義的公差限制,以檢測測量材料屬性和期望值之間的差異。HORIBA/YVON HORIBA/JOBIN YVON UVISEL II是一種理想的儀器，用於各種行業，包括半導體、醫療器件、光伏、玻璃制造。該系統的多功能性和高精度使其適合研究和生產應用。儀器功能廣泛，占地面積小，軟件界面直觀，是精密光學和表面表征的理想選擇。