二手 HORIBA / JOBIN YVON UVISEL II #293651503 待售

HORIBA/JOBIN YVON UVISEL II是一種高精度、無損的橢圓偏光計，旨在測量極薄的樣品層。它是一種最先進的模塊化光學檢測設備，采用單色和分光光度計技術相結合，測量薄膜的光學特性。HORIBA UVISEL II配置有一個旋轉補償器和一個高精度的光頭，可以在廣泛的基板和光學常數上進行測量。該型號采用CCD攝像頭、JOBIN YVON UVISEL II采集系統和YvoCourse軟件，可實時檢測樣品層和計算關鍵光學參數。UVISEL II采用橢圓偏振/分光光度法組合使用，包括用於小型化、低成本測量的低功率單色儀，以及用於更長波長測量的增強光學配置和先進的CCD攝像機，以獲得準確可靠的結果。它能夠測量材料的光學常數，如折射率、消光系數和吸收光譜。HORIBA/JOBIN YVON UVISEL II配備了全自動樣板臺和手動對準單元，使其成為高效多用途的機器。HORIBA UVISEL II中使用的高精度光學器件可以準確評估材料的薄層。橢圓偏振光頭的高精度斑點尺寸也保證了即使在曲面上也能得到高精度的測量。配備了先進CCD攝像頭的分光光度計模塊對樣品層的光學特性進行了詳細準確的分析，而JOBIN YVON UVISEL II隨附的軟件包為快速設置和控制工具提供了直觀的界面。UVISEL II是一種高效、可靠的薄膜層表征和表面層光學檢查儀器。它是用於質量保證和工業應用的經濟高效且自動化的資產。HORIBA/JOBIN YVON UVISEL II提供的測量是準確、可重復和可靠的，使這一儀器成為表面分析領域專業人員的寶貴工具。