二手 HORIBA / JOBIN YVON UVISEL II #9038921 待售

HORIBA/JOBIN YVON UVISEL II是一種橢圓偏振儀，一種用於測量在表面上形成的薄膜的厚度和光學特性的儀器。橢圓偏光計分析偏振光從表面反射時的變化，允許用戶確定表面的光學性質。HORIBA UVISEL II使用旋轉分析儀，允許在一系列入射光波長範圍內進行廣泛的測量。這包括對折射率、消光系數、吸收系數等光學常數的研究。橢圓偏光計在工業上被廣泛用於研究在表面形成的薄膜的光學性質，包括矽、砷化​​氙和磷化銨等半導體基板。橢圓偏光儀還用於研究、材料表征和制造過程中的質量控制。JOBIN YVON UVISEL II具有利用垂直安裝的雙激光束源的閉合光路系統。這使用戶能夠在250到840納米（nm）的入射光波長範圍內進行測量。波長範圍也可以用來建議用戶在任何特定的激光角度使用最佳測量。此外，該儀器還包括一個偏振分析儀，它使用入射激光束在樣品表面以s-和p-偏振角進行測量。該儀器提供了一系列的計算機控制選項，具有容易的點拍測量、自動化的樣品更換器和更高級的程序，允許用戶配置儀器進行更詳細的研究。數據是通過一臺連接的計算機收集的，該儀器采用數字反饋控制，以確保準確的可重復性。UVISEL II有一個內置的樣品室，其溫度和濕度控制，允許測量從室溫可達200攝氏度。該儀器還被設計為與背景減法和背景校正測量相兼容，使其能夠自動校正可能對測量產生的環境影響。總體而言,HORIBA/JOBIN YVON UVISEL II是一種高度精確和可靠的橢圓偏光計,它提供了一系列測量選項,使用戶可以深入了解在表面上形成的薄膜的光學特性。該儀器用戶友好，易於使用，在數據收集方面可提供高精度。