二手 HORIBA / JOBIN YVON UVISEL #149667 待售
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ID: 149667
Spectroscopic ellipsometer
50 Hz, 220V
Does not include PC or software
Broken hinge
De-installed.
HORIBA/JOBIN YVON UVISEL是一種最先進的矢量光譜橢圓偏振儀（VSE），用於測量從紫外線到紅外線的廣泛光譜範圍內的薄膜和其他材料。該儀器設計用於無損薄膜厚度、光學常數、散射和薄膜均勻性測量。通過在一定範圍內測量薄膜的光學特性，可以確定界面層的性質及其組成。HORIBA UVISEL利用旋轉偏振器和分析儀來測量設備光譜範圍內不同波長的光強度變化。對光源和樣品之間的偏振進行了修改，以測量表面和界面層反射回來之前和/或之後的光學效果。這是矢量光譜橢圓偏振法的一個優點，因為它可以在不使用復雜樣品制備的情況下進行薄膜表征。入射偏振光的調制是以可以測量樣品完整光譜橢圓偏振信息的方式進行的。完整的光譜可以在可見、近紫外線和光譜分辨率為0.5 nm、動態範圍高達六十年的中紅外區域內測量。器件的角分辨率為0.004°，用於以更好的精度測量動力範圍。JOBIN YVON UVISEL的主要部件包括一個XYZ級、高級光學、探測器陣列、獲取電子、計算機控制。XYZ級提供了對樣品的三維平移控制，而先進的光學器件則使用激光幹涉測量來提高光斑尺寸精度和掃描速度。該系統配有探測器陣列，用於測量光譜範圍內每一波長的輻射強度。用高速集成系統獲取數據，通過計算機控制結果。UVISEL是精確薄膜表征的理想儀器，從電子元件和金屬塗層的單層厚度測量到光學基板和光電元件的薄膜厚度測量。它也被用於電介質常數和吸收系數等薄膜的光學性質，以及各向異性的材料性質。該系統廣泛應用於先進薄膜表征是必須的行業，如半導體、汽車、醫療器械制造等。這使得HORIBA/JOBIN YVON UVISEL成為廣泛研究應用的通用工具。
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