二手 HORIBA / JOBIN YVON UVISEL #9213654 待售

HORIBA/JOBIN YVON UVISEL是一種先進的橢圓偏振儀，用於在納米級精確測量薄膜厚度。該儀器采用功能強大、用戶友好的軟件包設計，簡化了薄膜的復雜測量和操作。它有一個自動化的測量周期，使用戶能夠快速獲取樣品光學質量的準確數據。這使用戶能夠獲得豐富的分析見解,並充分利用系統的功能。考慮到樣品表面和光源之間復雜的光學相互作用，HORIBA UVISEL利用獲得專利的橢圓偏光計技術來測量基板和薄膜的光學特性。光學測量用於確定樣品的光學特性。橢圓偏光計配備了多種可互換的軟件模塊和光學參數，可以設置為配置樣品的測試條件。JOBIN YVON UVISEL適用於質量控制、光刻工藝控制、光學塗層表征、電子材料性能測定、薄膜結構測定等方面。它提供了多種可檢測的光學特性,如OPV、反射和厚度。高級板載軟件允許用戶從單個平臺執行各種數據分析功能和測量。該儀器可與PC等自動化系統集成，用於多級數據分析。此外，該系統還配備了符合人體工程學設計的光學臺，以便在進行測量時輕松定位樣品。此外,光纖輸送系統可確保分析設備的精確定位。綜上所述，UVISEL是為質量保證和薄膜測量應用而設計的高精度橢圓偏光計。憑借其先進的設計，該儀器為用戶提供了快速準確地測量薄膜的能力。板載軟件可實現自動數據采集和分析,而通用附件可方便地定位樣品。