二手 J.A. WOOLLAM AccuMap SE UI-1500 #9301004 待售

J.A. WOOLLAM AccuMap SE UI-1500 Ellipsometer是一種高精度光譜橢圓someter，設計用於測量薄膜和表面的光學特性。這種全自動儀器將高分辨率橢圓偏振法與可編程樣品定位器結合在一起，可用於200毫米大小的樣品。它對各種材料的薄膜厚度、光學常數（折射率和吸收系數）和表面粗糙度進行精確可靠的測量。該UI-1500具有高度靈敏的光譜探測設備，具有從紫外線到近紅外的各種波長。該系統可以測量0°至85°的入射角（AOI），以獲得準確可靠的結果。該儀器還配備了自動晶片對準裝置和樣品定位機，便於樣品加載。該UI-1500的精密光學器件提供了卓越的信噪比,具有卓越的精度.該儀器還具有高精度的數據采集和處理工具，用於準確和及時的數據分析。資產可配置為用於旋轉和非旋轉配置,並可用於各種應用,例如：薄膜沈積（粗度、光學常數等）。表面特性（粗糙度,光學常數）粘附試驗納米結構的光學參數薄膜應力分析.該UI-1500提供各種軟件和硬件選項,以確保滿足各種應用程序的需求。它支持自動晶片加載和晶片映射以實現快速高效的樣本分析,以及實時數據采集和數據分析以獲得快速結果。該UI-1500還具有易於使用的圖形用戶界面,用於配置分辨率和曝光時間。該UI-1500是表征薄膜和表面的完美儀器。這種光譜橢圓儀具有精確的光學、自動化的設置功能和用戶友好的設計,是研究和開發實驗室的理想選擇,這些實驗室尋求精確可靠的方法來測量各種材料的薄膜厚度、光學常數和表面粗糙度。