二手 J.A. WOOLLAM H-VASE #9182681 待售

J.A. WOOLLAM H-VASE（Horizontal Variable Angle Spectroscopic Ellipsometer）是一種橢圓偏光計，設計用於薄膜和表面遙感的定量表征。它能夠在不使用接觸探針或其他物理測量的情況下測量樣品表面的光學特性。H-VASE為商業、工業和科學應用提供了高速、精確和可靠的獨特組合。儀器的自動測量功能提供了可重復的薄膜測量，具有很大的動態範圍用於精確的厚度測定。它有一種可配置的測量方法來優化測量覆蓋面和捕獲感興趣的薄膜特性。J.A. WOOLLAM H-VASE的垂直和水平可變入射角設計確保了精確的薄膜表征。可變入射角避免了考慮由於入射角而產生的任何潛在影響的需要。可變入射角允許測量折射率和消光系數不同的材料。橢圓度和反射測量是使用白光源進行的，它提供了對入射光全光譜的精確測量。這允許表征反射率、吸收和包括波長色散在內的薄膜光學常數。激光不需要笨重的偏振器和分析器。還可以使用光譜橢圓偏振儀進行高級光學模擬。內置的光學仿真軟件使用戶能夠準確地模擬和分析薄膜的光學特性。軟件還允許對工藝參數進行叠代優化，以獲得薄膜表征的最佳光學參數。H-VASE提供一個或多個測量甲板。單層配置允許在一次測量中最多測量三層薄膜材料。多層測量甲板最多可容納七層薄膜材料。J.A. WOOLLAM H-VASE還具有可變角度的樣品放置功能,可在單個基板上對多種薄膜進行測量。可變角度取樣位置消除了使用控制取樣來解釋入射角效應的需要。可變角度放置也不需要對不同厚度的薄膜進行多個測量步驟。綜上所述，H-VASE是一種光譜橢圓儀，旨在提供精確和可重復的薄膜表征。該儀器提供了可變的入射角測量、先進的光學模擬以及最多可測量七層薄膜材料的能力。這使得J.A. WOOLLAM H-VASE成為商業、工業和科學電影表征應用的理想工具。