二手 J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II #293815174 待售

J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II是一款配備了紅外光譜能力的精密橢圓偏光計，設計用於紅外光譜範圍內精確的薄膜表征。橢圓偏振法（Ellipsometry）是一種常用的光學技術，通過分析薄膜基板系統反射或透射時偏振狀態的變化，來測定薄膜的厚度、折射率和其他光學性質。IR-VASE Mark II使研究人員和工程師能夠對廣泛的材料進行無損分析，包括半導體、電介質、聚合物和生物樣品。J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II的一個關鍵特征是它能夠測量電磁光譜紅外區域的光學特性,通常範圍為大約2.5 μ m至25 μ m （4000 cm-1至400 cm-1）。這種擴展的光譜範圍允許對具有獨特紅外吸收特征的材料進行表征，可以對化學成分、分子結構和鍵合構型提供有價值的見解。IR-VASE Mark II通過結合橢圓偏振和紅外光譜技術，提供了一種全面的薄膜分析方法，對材料科學、物理、化學和工程領域的研究應用特別有益。該儀器采用基於旋轉補償器的橢球偏振配置，對光的偏振狀態進行調制分析，提取復雜折射率、層厚、表面粗糙度等光學參數。J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II配備了先進的光學、探測器和軟件算法，以保證高測量靈敏度、準確性和可重復性。它可以容納各種樣品類型、幾何形狀和溫度，使其可以廣泛用於各種實驗設置和測量條件。IR-VASE Mark II提供多種測量模式，包括反射和透射橢圓偏振，以及紅外光譜橢圓偏振。反射測量是通過將偏振光束以特定入射角引導到樣品表面上並檢測反射光來進行的。透射測量涉及通過樣品的光和檢測透射光。紅外光譜橢圓偏振法將這些技術與紅外光源和探測器相結合，使得能夠對樣品中的分子振動和吸收進行詳細分析。該儀器由方便用戶的軟件控制，該軟件可方便設置、數據采集以及橢圓測量和光譜測量的分析。該軟件提供了可自定義的建模工具,用於根據光學常數、層結構和樣本屬性將實驗數據擬合到理論模型。這些建模功能使研究人員能夠提取有關薄膜的組成、厚度和光學行為的有價值的信息，以及監測薄膜生長、沈積或蝕刻等過程中實時的變化。綜上所述，J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II橢圓偏光儀是一種功能強大的工具，用於表征紅外光譜範圍內的薄膜，提供先進的測量能力、精確的數據分析，以及在各種科學和技術領域進行研發的通用實驗選擇。其橢圓偏振和光譜技術的結合，為研究人員全面了解薄膜材料中的光學性質、分子結構和化學成分，為材料科學和工程的新發現和進步鋪平了道路。