二手 J.A. WOOLLAM M-2000 #293585945 待售

J.A. Woo llam J.A. WOOLLAM M-2000是一種橢圓偏光計，用於測量材料樣品的薄膜厚度、折射率和吸收指數。它通過評估由薄膜樣品上表面反射引起的光的偏振狀態的變化，提供了準確而健壯的測量。它基於橢圓偏振原理工作，即以不同角度測量反射光的比率。這款橢圓儀由J.A. Woo llam設計，以其精確度和可靠的結果而聞名。M-2000由激光照明、高反射率的平面樣品級和通過分束器連接的光探測級組成。一種低相幹氦硼（He-Ne）激光器被用來提供受控的單色和不相幹光源。該光源指向樣品，光被反射，產生橢圓偏振信號。使用偏振機制檢測橢圓偏振信號，並進一步使用處理器和符合人體工程學的圖形用戶界面進行解釋。J.A. WOOLLAM M-2000的設計涵蓋範圍廣泛的薄膜,包括單層薄膜和多層薄膜。激光束的入射角是可變的，允許廣泛的研究如實時光譜學和剖面圖，可以用來獲取薄膜厚度、折射率和吸收指數等信息。此外，M-2000還配備了計算機硬件和軟件包，便於數據分析和數據查詢。J.A. Woo llam J.A. WOOLLAM M-2000由於其先進的設計和技術進步，被認為是半導體和光學塗層行業研究和行業環境的有效工具，使用戶能夠深入了解其材料樣品的物理特性。它具有很高的準確性和可靠性，操作簡單。