二手 J.A. WOOLLAM M-2000 #293618164 待售

J.A. WOOLLAM M-2000橢圓儀是一種高度先進的光學光譜工具，用於測量薄膜的光學變化。它是一種使研究人員能夠以無與倫比的精度和精度測量薄膜厚度、層密度、折射率和光學常數的工具。M-2000 Ellipsometer在200-2000 nm的範圍內工作,並部署偏振激光光源來測量s-和p-偏振反射光的比率。通過感測橢圓偏振光的波長和角度依賴性累積，用戶可以準確獲得表面和底層的性質。該系統還通過各種軟件解決方案提供數據傳輸,包括RSoft Suite軟件、Excel Add-In軟件和WCATM連接選項。J.A. WOOLLAM M-2000采用先進的激光技術和直觀的7英寸觸摸屏,為表面特性測量提供最快、最先進的解決方案。M-2000利用集成的True Ellipsometry技術,無需輸入薄膜參數。這樣可以確保更快、成本優化和更準確的測量。曲面法向自動對齊特征通過自動設置曲面法向角度來確保峰值精度。Woollam J.A. WOOLLAM M-2000還具有集成的多方向掃描功能,允許從不同角度同時進行測量。結合ZYGO卓越的光學技術和先進的激光技術,在薄膜測量中提供了極致的精度和精確度。此外，M-2000提供了一個具有溫度控制室的高度可靠和堅固的解決方案，它保持了環境，以保持測量結果的穩定和可重復。所有這些功能和更多的功能使J.A. WOOLLAM M-2000橢圓儀成為當今市場上最先進的工具之一。