二手 J.A. WOOLLAM M-2000 #293631836 待售

J.A. WOOLLAM M-2000橢圓儀是一種用於薄膜表征和過程控制的光學儀器。M-2000裝有一個在可見光譜（波長632.8 nm）中發光的氦-霓激光器，在樣品表面撞擊前將其極化。然後光的偏振被光路中的光學元件改變，它們與樣品表面上已經存在的薄膜相互作用。在樣品前後放置的兩個高靈敏度、大動態範圍探測器有助於檢測光偏振狀態的這些變化。J.A. WOOLLAM M-2000獨一無二的專利旋轉分析儀技術消除了樣品雙折射引起的不良信號分量，從而在不到幾百納米厚的薄膜測量中實現了前所未有的精度和可重復性。傾斜入射光束的使用還大大減少了設計引起的錯誤,為高通量環境中的用戶提供了關鍵優勢。M-2000的時間分辨率也很高，系統的最大響應為1毫秒，可以對整個樣品表面快速變化的薄膜進行超快監測。測量到的信號可以使用隨附的軟件包（J.A.W. ThinFilmLab）去卷積成其薄膜組件，其中包含模型的數據庫和最近發布的全局優化例程的接口（如Levenberg- Marquardt算法）。這樣就可以同時擬合多層，以及以驚人的精度確定任意薄膜的厚度和光學常數。此外,對於需要額外控制的用戶,可以自定義軟件包以適應任何所需的模型。對於便攜式應用程序,J.A. WOOLLAM M-2000具有集成的XY級和電動定位功能,可對大樣本量進行自動測量。該儀器還非常易於操作，具有簡單的圖形用戶界面，可確保快速和最佳的數據收集。其緊湊的設計、低功耗以及即使是最復雜的樣品也能處理，使其成為任何參與薄膜研究的實驗室的寶貴工具。