二手 J.A. WOOLLAM M-2000 #293664041 待售

J.A. WOOLLAM M-2000 Ellipsometer是一種專門設計用於表征薄膜系統和確定復雜光學常數的設備。它具有前所未有的數據速度和準確性，是光學表征的頂級線形工具之一。M-2000使用一類橢圓偏振技術，稱為可變角度光譜偏振（VASE）。這種技術在分析薄膜時特別有用，因為它可以在掃描幾個波長的同時，在一秒內的大角度範圍內測量光學常數。J.A. WOOLLAM M-2000還采用雙波長（λ/2）技術來測量低至亞納米厚度的薄膜的光學各向異性。M-2000擁有五自由度的機械設備,可以實現前所未有的測量速度和準確性。該設備具有集成的采樣級,可監控入射平面中的采樣運動,最長可達± 4°。這樣可以進行精確的測量,而無需專用的樣品安裝系統。J.A. WOOLLAM M-2000最令人印象深刻的特點是其自動制圖和采樣單元。只要單擊幾下，用戶就可以在一定角度和波長範圍內創建15 x 15個不同參數的地圖。這意味著一小部分時間內的映射非常精確。在光學和硬件方面，M-2000配備了雙通道光譜儀，使其能夠以每波長最多4個不同的角度檢測多達12個不同波長（195 nm至1675 nm）的線性偏振光。該機針對定制設計的樣品支架進行了優化,並具有卓越的光電源單元,以確保準確的結果。J.A. WOOLLAM M-2000包括高級軟件包,如功能齊全的M-View Pro GUI,並提供廣泛的自定義和報告選項。它還包括用於多元分析的Python庫,以及用於繪制結果的MATLAB腳本。這為數據分析和跟蹤提供了一系列令人難以置信的選項,以滿足每個用戶的獨特需求。總體而言，M-2000橢圓儀是薄膜光學表征的終極工具。它具有精確的速度、精度和易於使用的軟件，是任何應用的理想設備。